Оптические методы оценки чистоты

Это объясняется тем, что часть пучка света, попавшего на поверхность, отразится от точки а. Это смещение пропорционально высоте ступеньки. Если исследуемая поверхность неровная, то изображение светящейся щели на сетке окулярного микрометра будет искривленным в соответствии с профилем микронеровностей на исследуемой поверхности. Высоту микронеровностей можно определить по искривлению этого изображения светящейся щели, по шкале, нанесенной на стекло, которое встроено в микроскоп.

Микроинтерферометры В. П. Линника основаны на использовании явления интерференции света.

Этими приборами можно оценивать высоту неровностей от 0 до 8 мк. Недостатком этих приборов является малое поле зрения (до с мм2) и длительность процесса замеров (которые производятся нескольких местах измеряемой поверхности) и подсчетов.

В Микропрофильный метод оценки чистоты поверхности основан на определении численных значений высот микронеровностей путем ощупывания исследуемой поверхности иглой с твердым наконечником. Основная задача при изготовлении заготовок — приближение их формы к формам готовых деталей.

Комментарии запрещены.